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簡要描述:產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,石油,電子,汽車 HORIBA堀場X射線熒光有害元素分析儀X射線導(dǎo)向管聚焦技術(shù)保證了較高的檢測精度;厚度自動(dòng)修正;CL元素自動(dòng)修正:同軸CCD技術(shù);X射線零外溢;隨機(jī)攜帶12塊標(biāo)準(zhǔn)樣;新增金屬鍍層測厚功能。
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HORIBA堀場X射線熒光有害元素分析儀
HORIBA XGT-1000WR主要技術(shù)指標(biāo):
1、 分析元素:Si~UCd/Pb高精度型;Na~U選擇:φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型
2、 檢測精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內(nèi)部尺寸:不超過460×360 mm高150 mm
4、X射線照射徑:φ1.2 mm可選:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換
5、 檢測器:高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設(shè)備重量:約 265 kg不含桌子、計(jì)算機(jī)
7、 外形尺寸:分析部分:610W×750D×500Hmm
8、 信號(hào)處理部:220W×500D×480Hmm
9、可同時(shí)測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT技術(shù)實(shí)現(xiàn)了微小面積、高X射線能量聚焦測量,確保了微區(qū)測量、快速測量、高精度測量。
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